SRM1976cX射線粉末衍射儀器標(biāo)準(zhǔn) (nist標(biāo)準(zhǔn)品)由燒結(jié)氧化鋁圓盤組成，用于校準(zhǔn) X 射線粉末衍射設(shè)備的線位置和強(qiáng)度作為 2θ 角的函數(shù)。 SRM 的固體形式消除了由樣品加載過程引入的強(qiáng)度測量中的任何可變性。 SRM 1976c 的一個單元由一個直徑約為 25.6 毫米、厚度為 2.2 毫米的燒結(jié)氧化鋁圓盤組成。

用于生產(chǎn)此 SRM 的制造工藝是為生產(chǎn)電子元件基板而開發(fā)的。用作這些基材前體的氧化鋁粉末具有高相純度（剛玉結(jié)構(gòu)），具有片狀顆粒形態(tài)。血小板的直徑通常為 5 μm 至 10 μm，厚度為 2 μm 至 3 μm。圓盤的壓實過程導(dǎo)致軸對稱紋理基面趨向于與圓盤表面平行。紋理的這種軸對稱特性允許樣品以任何關(guān)于表面法線的方向安裝。使用小百分比的鈣長石玻璃相對壓塊進(jìn)行液相燒結(jié)。未檢測到結(jié)晶雜質(zhì)。液相燒結(jié)中涉及的玻璃相有效地防止了顆粒間的接觸，并在從燒結(jié)溫度冷卻碎片的過程中松弛。這導(dǎo)致微應(yīng)變的最小發(fā)展及其相關(guān)的線展寬；盡管可以檢測到一些微應(yīng)變，因為具有 tanθ 依賴性的高斯展寬。鑒于此，以及基本不存在微晶尺寸展寬，SRM 1976c 可用于獲得儀器輪廓函數(shù) (IPF) 的近似值。但是，不推薦使用 SRM 1976c 進(jìn)行定量微觀結(jié)構(gòu)分析。包含該 SRM 原料的圓盤是在單一的專用生產(chǎn)運行中制造的，以確保微觀結(jié)構(gòu)在晶粒尺寸、形狀、微應(yīng)變和紋理方面的一致性。

NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因為所有已知或可疑的偏差來源都已被調(diào)查或考慮在內(nèi)。被測量是表 1 中所示的相對強(qiáng)度（無量綱比）的認(rèn)證值，以及表 2 中所示的晶格參數(shù)。計量溯源性是國際單位制 (SI) 單位，相對強(qiáng)度值是維度為一，對于晶格參數(shù)，維度是長度（以納米表示）。認(rèn)證值和不確定度是根據(jù) ISO/JCGM 指南 [1] 中描述的方法計算的。

與 SRM1976cX射線粉末衍射儀器標(biāo)準(zhǔn) (nist標(biāo)準(zhǔn)品)認(rèn)證相關(guān)的分析包括計算表 3 中所示的衍射線位置。為了在各種光學(xué)配置的衍射設(shè)備上使用SRM 1976c，必須考慮偏振的影響。表 4 中顯示的值包括偏差應(yīng)用于認(rèn)證值以說明這種影響。表 3 和表 4 的數(shù)據(jù)表示為信息值。信息值被認(rèn)為是 SRM 用戶感興趣的值，但沒有足夠的信息來評估與該值相關(guān)的不確定性。信息值不能用于建立計量溯源性。